Soluciones END / Detector de fallas por arreglo de fases
OmniScan X3 Detector de defectos por arreglo de fases
Cada detector de defectos de la serie OmniScan™ X3 es una completa caja de herramientas por ultrasonido multielemento (Phased Array). Las innovadoras y avanzadas técnicas TFM y PA permiten identificar defectos con confianza, mientras que las potentes herramientas de software y los sencillos flujos de trabajo mejoran su productividad.
Detector de defectos por Phased Array y TFM OmniScan™ X3 64 con capacidades avanzadas
La potencia en modo portátil
Protegidas por la carcasa robusta, portátil y comprobada en campo del OmniScan X3, las poderosas capacidades de focalización, que proceden del detector de defectos OmniScan X3 64 y se ven respaldadas por una apertura superior de elementos, permiten sacar el máximo provecho de las sondas de ultrasonido multielemento (Phased Array) de 64 elementos y la apertura de 128 elementos en el modo de focalización total (TFM). Utilice este rendimiento mejorado para enfrentar los desafíos de inspección que se plantean con materiales gruesos y atenuantes, y amplíe su potencial para desarrollar nuevos procedimientos destinados a un rango más amplio de aplicaciones.
Detector de defectos por ultrasonido multielemento (Phased Array)
OmniScan™ X3 con TFM
Confíe en lo que ve
El detector de defectos OmniScan X3 es una completa caja de herramientas que cubre la tecnología del ultrasonido multielemento (Phased Array). Las potentes herramientas, como el procesamiento de imágenes por el método de focalización total (TFM) y las capacidades de visualización avanzadas, respaldadas por su alta calidad de imagen, permiten completar las inspecciones con mayor confianza.
TFM innovador y eficiente
Confirme con anticipo la cobertura de haz provista por el TFM
La herramienta, denominada mapa de influencia acústica (AIM), proporciona un modelo visual instantáneo de la sensibilidad en función del modo TFM, las sondas, los parámetros y los reflectores simulados.
Esta herramienta elimina las conjeturas cuando crea su plan de escaneo mediante la visualización del efecto de un grupo de ondas (modo TFM), la visualización en donde las interrupciones de sensibilidad se producen, y el ajuste subsecuente de su plan de escaneo.
Vea lo que puede estar perdiendo sin el PCI
Nuestro procesamiento de imágenes de coherencia de fase (phase coherence imaging, PCI) en vivo y sin amplitud mejora la sensibilidad en pequeños defectos y la penetración del ultrasonido en materiales ruidosos; todo ello se conjuga con una configuración fácil y dimensionamiento simplificado. Esta función está disponible en el detector de defectos OmniScan X3 64 a partir de la versión 5.10.
Benefíciese del Phased Array a 64 emisores
Aproveche todo el potencial de las sondas de ultrasonido multielemento (Phased Array) de 64 elementos por medio del detector de defectos OmniScan X3 64 para obtener una resolución mejorada en el punto focal.
Imagen derecha: Este S-scan, adquirido por medio de un instrumento OmniScan X3 de 32 canales y una sonda de 64 elementos (modelo 5L64-A32), es una representación de alta calidad; pero, la resolución refleja el hecho de que solo los 32 elementos del medio pueden usarse para la ley focal.
Imagen izquierda: Con una apertura completa de 64 elementos (sonda 5L64-A32), el detector de defectos OmniScan X3 64 proporciona una mejor resolución PA en el punto focal, lo que le permite distinguir de forma más fácil las indicaciones (defectos) que están juntas o en un grupo.
Acceda a la apertura completa de 128 elementos en TFM
Gracias a la electrónica de última generación, las representaciones TFM ofrecen mejores capacidades de focalización para indicaciones más pequeñas y una mejor relación señal-ruido (SNR). Por su parte, el modelo OmniScan X3 64, dotado de una capacidad de apertura de 128 elementos, proporciona una claridad mejorada de la representación.
Imagen derecha: Esta representación TFM se adquirió con 64 elementos a partir de una sonda de 128 elementos (modelo 3.5L128-I4) usando un modelo OmniScan X3 de 32 canales.
Imagen izquierda: En este caso, el detector de defectos OmniScan X3 64 favoreció el uso de la apertura completa de 128 elementos de nuestra sonda I4 de 3,5 MHz y 128 elementos. Note la resolución mejorada y el ruido de fondo reducido.
Adquiera una representación TFM hasta cuatro veces más rápido
Consiga velocidades de adquisición del método de focalización total (TFM) hasta cuatro veces más rápidas cuando utilice una sonda de 64 elementos. A diferencia de los modelos con 32 emisores, el detector de defectos OmniScan X3 64 concede una mejora significativa en la eficiencia debido a su mayor capacidad de apertura.
Técnica de ultrasonido multielemento (Phased Array) mejorada
- Rapidez triplicada a diferencia del OmniScan MX2 (máxima frecuencia de repetición de impulsos)
- Menú exclusivo para TOFD a fin de agilizar la calibración del flujo de trabajo
- Alto rango de amplitud al 800 % que reduce la necesidad de un doble escaneo
- Soporte integrado para sondas Dual Linear Array™ y Dual Matrix Array™ para agilizar la creación de la configuración
Supere el monitoreo de la corrosión por Phased Array
El uso del ultrasonido multielemento (Phased Array) para inspeccionar la corrosión ofrece muchos beneficios, incluida una excelente cobertura y resolución. Sin embargo, adquirir competencia en las técnicas Phased Array puede constituir un desafío. Por ello, el detector de defectos OmniScan X3 combina funciones avanzadas, como la sincronización de puertas, con un software desarrollado concienzudamente y menús simplificados para que el operador pueda obtener resultados precisos de forma más sencilla. Emprenda su configuración rápidamente gracias al procesamiento de sincronización A-scan y la ganancia manual corregida en función del tiempo (TCG) de este instrumento.
OmniScan X3 Series
| Modelos | OmniScan X4 | OmniScan X3 64 |
| Configuración | 16:64PR | 16:128PR | 32:128PR | 64:128PR |
| Aplicaciones | Monitoreo de corrosión; integridad de tuberías; escaneo PA/TFM manual; TOFD; tuberías pequeñas | Escaneo PA y TOFD multigrupo para soldaduras finas de alta productividad; fabricación de álabes (palas) eólicos, material compuesto (composite) | Escaneo PA y TOFD multigrupo para soldaduras gruesas de alta productividad; soldaduras austeníticas, de aleaciones resistentes a la corrosión (CRA) y de metales disímiles; TFM | Escaneo PA y TOFD multigrupo para soldaduras muy gruesas de alta productividad; soldadura austenítica, de aleaciones resistentes a la corrosión (CRA) y de metales disímiles; TFM de alta productividad; ataque de hidrógeno caliente (HTHA); desarrollo de aplicaciones avanzadas |
| Emisores (PA) | 16 | 16 | 32 | 64 |
| Receptores | 64 | 128 | 128 | 128 |
| Elementos TFM | 32 | 32 | 64 | 128 |
| Canales UT (Emisión-Recepción) | 2 | 2 | 2 | 2 |
| Grupos | Hasta dos (PA; UT/TOFD; TFM) o dos PA con un TOFD | Hasta ocho en total TFM: hasta cuatro | Hasta ocho en total TFM: hasta cuatro | Hasta ocho en total TFM: hasta cuatro |
| Frecuencia de ancho de banda | De 0,5 a 18 MHz | De 0,2 MHz a 26,5 MHz |
| Ancho máximo de impulso (PA) | 500 ns | 1000 ns |
| Tensión PA | 40 V, 80 V y 115 V / Impulso unipolar negativo | 10 Vpp, 20 Vpp, 40 Vpp, 80 Vpp, 120 Vpp y 160 Vpp / Impulso cuadrado bipolar |
| Capacidad de almacenamiento SSD interno | 64 GB | 1 TB |
| Características y especificaciones adicionales | Idénticas |
Software MXU
Software de inspección y análisis para las técnicas ultrasónicas PA, TOFD y TFM
El software integrado MXU del detector de defectos OmniScan X3 proporciona menús optimizados y simplificados, como también herramientas avanzadas pero intuitivas, para guiarlo a través del flujo de trabajo de su inspección —desde la configuración hasta la generación de informes— usando las técnicas ultrasónicas UT, PA, TOFD y TF.
Alivie su flujo de trabajo de END gracias a herramientas integradas
1. Plan de escaneo
Siga los pasos especificados 1, 2 y 3 para configurar su inspección en el propio instrumento.
2. Calibración
Ejecute una calibración totalmente soportada por las herramientas integradas.
3. Adquisición
Visualice los resultados del escaneo en vivo durante su inspección.
4. Análisis
Interprete sus datos de forma rápida y segura.
Procesamiento en vivo de la envolvente en TFM
Facilite la caracterización y el dimensionamiento de defectos/fallas
El exclusivo procesamiento de envolvente del instrumento proporciona representaciones TFM de alta resolución. Las indicaciones (o defectos) aparecen más nítidas y claras destacando de forma más intensa
Extienda sus capacidades PA y TFM
Eleve sus capacidades para afrontar los desafíos de sus clientes y desarrolle nuevos procedimientos a fin de cubrir un rango más amplio de aplicaciones. Adquiera potencia mediante el manejo de sondas PA avanzadas, como nuestras sondas Dual Linear Array™ o Dual Matrix Array™, o sondas personalizadas que le otorgarán imágenes de mayor calidad a partir de materiales acústicamente desafiantes.
Cuando la precisión es primordial
Frecuencias más bajas y un ancho de banda más amplio para una visualización con claridad
A diferencia del modelo de 32 canales, el modelo de 64 canales proporciona una mejor relación señal-ruido (SNR) a través de un ancho de banda superior bajo frecuencias más altas y bajas.
Por medio de la conducción de frecuencias más bajas con un ancho de impulso superior, el detector de defectos OmniScan X3 64 ofrece una mejor resolución de señal en materiales atenuantes, como los compuestos.
En las representaciones C-scan, a medida que la resolución y la relación señal-ruido se ven potenciadas por el modelo de 64 canales, se revelan muchas más características dotadas de finos detalles, lo que le permite una mayor precisión cuando sea necesario.
Solucione errores antes de controlar sus datos PA y TOFD en calidad y fiabilidad
La función del canal de verificación de acoplante del detector de defectos OmniScan X3, combinada con los indicadores de velocidad de escaneo y acoplamiento en tiempo real del módulo ScanDeck™, permite a los inspectores monitorizar la calidad de los datos antes de su almacenamiento en el archivo específico.* Los datos de calidad del acoplamiento se guardan y pueden ser revisados posteriormente.*El módulo ScanDeck está disponible en ciertos escáneres, como el escáner AxSEAM, a partir de julio de 2020.
Evite la saturación de la señal en grandes defectos
Fácil ajuste de ganancia con un rango de amplitud del 800 %
Mejore la eficiencia de una inspección al eliminar escaneos innecesarios. El alto rango de amplitud del 800 % permite ajustar la ganancia de grandes defectos (p. ej., la falta de fusión) al nivel de referencia en el procesamiento posterior, lo que evita emprender un nuevo escaneo.
Confirme la cobertura del haz TFM con anticipo
El mapa de influencia acústica (AIM) proporciona un modelo visual integrado de la sensibilidad en función del modo TFM, las sondas, los parámetros y los reflectores simulados. Esta herramienta elimina las conjeturas al crear su plan de escaneo, lo que permite ajustarlo en consecuencia.
- Obtenga datos claros sobre el área de mayor sensibilidad proyectada.
- Vea qué modos TFM brindan la mejor cobertura para el área de interés.
- Cuanto mayor sea el índice de sensibilidad, mejor será la relación señal-ruido (SNR) deseada.
- Simule la sensibilidad del modo TFM en un defecto esférico o plano.
Compatibilidad OmniScan totalmente retroactiva para su conveniencia
Recupere sus archivos de datos provenientes de versiones anteriores del software OmniPC y los archivos de configuración de los detectores de defectos OmniScan MX2, SX y MX. Para facilitar la transición, los archivos de configuración .ops de la serie OmniScan son compatibles con el detector de defectos OmniScan X3, asimismo los archivos de datos .opd son compatibles con los softwares OmniPC 5 y WeldSight.
Procesamiento de ondas laterales por TOFD
La sincronización de ondas laterales mejora la legibilidad de los datos adquiridos por la difracción del tiempo de vuelo (TOFD).
- La alineación de una onda lateral permite evaluar la profundidad y dimensionar los defectos de manera más precisa.
- Es posible detectar las indicaciones (defectos) más cercanas a la superficie al usar la función de extracción de ondas laterales.
- El procesamiento de ondas laterales puede llevarse a cabo por secciones, lo que proporciona una mayor flexibilidad.
Software de PC dedicado al análisis de datos provenientes de ensayos por ultrasonido convencional y ultrasonido multielemento (Phased Array)
El software de análisis OmniPC es un software complementario de PC dedicado al detector de defectos OmniScan X3. Esta herramienta de inspección desarrollada por inspectores proporciona la potencia y el rendimiento para gestionar todas las necesidades básicas relativas al análisis de datos y generación de informes.
¿Por qué el software OmniPC?
Optimización pensada para los inspectores de END
Al igual que el software integrado del detector de defectos OmniScan X3, el software OmniPC permite a los inspectores usar la técnicas UT, PA, TOFD y TFM a fin de llevar a cabo análisis e informes eficientes en un(a) PC.
Software auxiliar complementario para los detectores de defectos OmniScan
Tanto el software OmniPC como sus actualizaciones pueden descargarse de forma gratuita a través de una suscripción. Esta última NO requiere:
- Llave HASP
- Clave de producto
- Pagos de renovación
Reputada interfaz del usuario OmniScan
La interfaz del usuario proyectada por el software OmniPC se parece a la del software integrado del OmniScan X3 para facilitar la curva de aprendizaje.
Corrección de descuidos hechos durante la adquisición
La incidencia oblicua, el desplazamiento de escaneo y de índice del software OmniPC pueden cambiarse durante el análisis posterior a la inspección para mejorar la precisión de los datos y evitar la ejecuación de una nueva adquisición.
Puertas ajustables y lecturas dinámicas
Las puertas A, B e I se encuentran disponibles con varios tipos de lecturas (dedicados a las inspecciones de corrosión).
Reproduzca la adquisición
En cualquier momento, ajuste el valor de ganancia (Gain), aplique el diseño Auto 80%, y desplace los cursores de datos (Data cursor).
Facilidad al identificar defectos
Uso de puertas en la Profundidad real o la Trayectoria acústica, o cambio de la Paleta de zoom para localizar más rápido las indicaciones (defectos).
Recalibración TOFD
Vuelva a calibrar el retardo de la suela (zapata) y la distancia entre los centros de las sondas (PCS) en uso dentro de sus archivos TOFD. Sincronice y elimine la onda lateral según sea necesario.
Extraer y exportar con facilidad los datos para informes
Existen diferentes opciones de exportación de datos disponibles para satisfacer las necesidades relativas a la generación de informes.
Seleccione el modelo justo para
su aplicación
Cada modelo de la serie OmniScan X4 maneja sondas que presentan un cierto número de elementos y cuyo fin es ofrecer diversas capacidades de enfoque para diferentes materiales y espesores. A continuación, proporcionamos los tipos de aplicaciones que los cuatro modelos cubren con un diestro desempeño. Contacte con nosotros o su representante Evident para obtener más detalles.
Folleto OmniScan™ X4 Flaw Detecto
Libro electrónico sobre el método de focalización